| | |
| | |
| | | Рентгеновское синхротронное излучение и его применение для исследования структуры и свойств вещества |
| | | Электронно-микроскопические методы исследования материалов |
| | | Диэлектрическая спектроскопия материалов в электронике |
| | | Композиты на основе полимерных и углеродрых материалов для электроники |
| | | Физические принципы молекулярной электроники |
| | | Гальваномагнитные методы измерения |
| | | Влияние космической радиации на шумы и надежность полупроводниковых электронных приборов |
| | | Методы очистки поверхности подложек |
| | | Оценка параметров сейсмичности сейсмоопасных регионов |
| | | Супергидрофобные поверхности |
| | | Микроэлектромеханические системы |
| | | Позитронная томография как неразрушающий метод контроля качества технических материалов |