| | |
 | 17.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 18.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| 19.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 20.01.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 21.01.2022 |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 24.01.2022 |
| | 12:20
13:50 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 25.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| 26.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 27.01.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 28.01.2022 |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 31.01.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 01.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| 02.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 03.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 04.02.2022 |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 07.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 08.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| 09.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 10.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 11.02.2022 |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 14.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 15.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-321 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| 16.02.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 17.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 18.02.2022 |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 21.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 22.02.2022 |
| | 12:20
13:50 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 24.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 25.02.2022 |
| | 12:20
13:50 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 26.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 28.02.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 01.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 02.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 03.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 04.03.2022 |
| | 12:20
13:50 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 09.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | лек Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 10.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 11.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 12.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 14.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | пр. Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-405/1 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 15.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 16.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 17.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 18.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 21.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 22.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 23.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 24.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 25.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 28.03.2022 |
| | 08:00
09:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 29.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 30.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 31.03.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 01.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 04.04.2022 |
| | 08:00
09:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 05.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 06.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 07.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 08.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 25.04.2022 |
| | 08:00
09:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 26.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Зондовые технологии | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 27.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-310 |
| | 14:10
15:40 | лаб Зондовые технологии | Галиев А.Ф.
ауд. 2-310 |
| 28.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | зач Основы инновационной деятельности | Измаилов Р.Н.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 29.04.2022 |
| | 09:50
11:20 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 11.05.2022 |
| | 16:00
17:30 | экз Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | экз Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 12.05.2022 |
| | 09:50
11:20 | зчО Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 13.05.2022 |
| | 08:00
09:30 | зач Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 09:50
11:20 | зач Технологии поверхностного монтажа | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | зчО Зондовые технологии | Корнилов В.М.
ауд. 2-309 (комп.к) |
| 14.05.2022 |
| | 12:20
13:50 | экз Экзамены по модулю "Расчет, проектирование и диагностика электронных устройств" | Корнилов В.М.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | экз Экзамены по модулю "Расчет, проектирование и диагностика электронных устройств" | Корнилов В.М.
ауд. 2-501 (комп.к) |