| | |
 | 16.01.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 17.01.2023 |
| | 16:00
17:30 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 18.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 19.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 20.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 23.01.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 24.01.2023 |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 25.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 26.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 27.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 30.01.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 31.01.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 01.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 02.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 03.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 06.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 07.02.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 08.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лек Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 09.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 10.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 13.02.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Компьютерное моделирование наносистем | Калимуллина Л.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 14.02.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 15.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 16.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 17.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 20.02.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 21.02.2023 |
| | 12:20
13:50 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 22.02.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 27.02.2023 |
| | 14:10
15:40 | лек Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 28.02.2023 |
| | 16:00
17:30 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 01.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 02.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 03.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 06.03.2023 |
| | 16:00
17:30 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 07.03.2023 |
| | 12:20
13:50 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 09.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 10.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 13.03.2023 |
| | 16:00
17:30 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 14.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 15.03.2023 |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 16.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лек Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | пр. Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 17.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 20.03.2023 |
| | 12:20
13:50 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 21.03.2023 |
| | 12:20
13:50 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 22.03.2023 |
| | 16:00
17:30 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 17:50
19:20 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 23.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 24.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 27.03.2023 |
| | 12:20
13:50 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 28.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 29.03.2023 |
| | 12:20
13:50 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 30.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 31.03.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 03.04.2023 |
| | 12:20
13:50 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | пр. Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 04.04.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 16:00
17:30 | лаб Компьютерное моделирование наносистем | Байбулова Г.Ш.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 05.04.2023 |
| | 12:20
13:50 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | лаб Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 06.04.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-413 (комп.к) |
| 07.04.2023 |
| | 09:50
11:20 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | лаб Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |
| 11.05.2023 |
| | 09:50
11:20 | экз Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 12:20
13:50 | экз Компоненты электронной техники | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 15.05.2023 |
| | 12:20
13:50 | экз Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | экз Органическая и печатная электроника | Галиев А.Ф.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 16.05.2023 |
| | 09:50
11:20 | зчО Современные тонкопленочные технологии | Карамов Д.Д.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| | 14:10
15:40 | зчО Компьютерное моделирование наносистем | Юсупов А.Р.
ауд. 2-401 (комп.к) |
| 17.05.2023 |
| | 09:50
11:20 | зчО Методы исследования электрофизических свойств материалов микро- и наноэлектроники | Бунаков А.А.
ауд. 2-501 (комп.к) |