| | | | |
| | | |
| |
02.07.2024 | Отл | | | Рентгеновское синхротронное излучение и его применение для исследования структуры и свойств вещества |
02.07.2024 | Отл | | | Электронно-микроскопические методы исследования материалов |
02.07.2024 | Отл | | | Диэлектрическая спектроскопия материалов в электронике |
02.07.2024 | Хор | | | Композиты на основе полимерных и углеродрых материалов для электроники |
02.07.2024 | Н/я | 11.09.2024 | Удовл | Физические принципы молекулярной электроники |
02.07.2024 | Хор | | | Гальваномагнитные методы измерения |
02.07.2024 | Отл | | | Влияние космической радиации на шумы и надежность полупроводниковых электронных приборов |
02.07.2024 | Хор | | | Методы очистки поверхности подложек |
02.07.2024 | Отл | | | Оценка параметров сейсмичности сейсмоопасных регионов |
02.07.2024 | Отл | | | Супергидрофобные поверхности |
02.07.2024 | Отл | | | Микроэлектромеханические системы |
02.07.2024 | Хор | | | Позитронная томография как неразрушающий метод контроля качества технических материалов |