| | |
| | |
| 02.07.2024 | Отл | Рентгеновское синхротронное излучение и его применение для исследования структуры и свойств вещества |
| 02.07.2024 | Отл | Электронно-микроскопические методы исследования материалов |
| 02.07.2024 | Отл | Диэлектрическая спектроскопия материалов в электронике |
| 02.07.2024 | Хор | Композиты на основе полимерных и углеродрых материалов для электроники |
| 02.07.2024 | Н/я | Физические принципы молекулярной электроники |
| 02.07.2024 | Хор | Гальваномагнитные методы измерения |
| 02.07.2024 | Отл | Влияние космической радиации на шумы и надежность полупроводниковых электронных приборов |
| 02.07.2024 | Хор | Методы очистки поверхности подложек |
| 02.07.2024 | Отл | Оценка параметров сейсмичности сейсмоопасных регионов |
| 02.07.2024 | Отл | Супергидрофобные поверхности |
| 02.07.2024 | Отл | Микроэлектромеханические системы |
| 02.07.2024 | Хор | Позитронная томография как неразрушающий метод контроля качества технических материалов |